IEEE design & test
Grunnleggende informasjon
Internasjonal tittel: |
IEEE design & test |
p-ISSN: |
2168-2356 Periode: [2013 .. ] |
e-ISSN: |
2168-2364 Periode: [2013 .. ] |
Språk: |
Engelsk |
Utgiverland: |
USA |
URL: |
http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp[..] |
Forgjengere: |
IEEE Design & Test of Computers |
Forlag: |
IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers) |
ITAR-kode: |
1025838 |
NPI Fagfelt: |
IKT |
Minimumskriterier
✅ Vitenskapelig redaksjon |
✅ Fagfellevurdert |
✅ Internasjonal forfatterkrets |
✅ Godkjent ISSN |
Åpen tilgang
Nivåplasseringer og UH-sektorens publiseringspoeng
År | Nivå | Forfatterandeler | Publiseringspoeng |
---|---|---|---|
2024 | 1 | ||
2023 | 1 | 0.125 | 0.4596 |
2022 | 1 | 0.0 | 0.0 |
2021 | 1 | 0.0 | 0.0 |
2020 | 1 | 0.0 | 0.0 |
2019 | 1 | 0.0 | 0.0 |
2018 | 1 | 0.0 | 0.0 |
2017 | 1 | 0.0 | 0.0 |
2016 | 1 | 0.0 | 0.0 |
2015 | 1 | 0.1429 | 0.4914 |
2014 | 1 | 0.0 | 0.0 |
2013 | 1 | 0.0 | 0.0 |
Offentliggjøres i mai året etter |
Kommentarer
Kommentarer som gjelder oppdatering av informasjon, er kun synlig for deg og saksbehandler. Kommentarer som gjelder faglige innspill og nivå, blir offentlige.
Logg inn for å kommentere